技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于中子探測(cè)器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種反沖質(zhì)子法快中子探測(cè)裝置。

背景技術(shù)

中子的發(fā)現(xiàn)使原子核物理的研究取得了巨大進(jìn)展，隨著對(duì)中子物理理論研究的不斷完善，相應(yīng)的中子應(yīng)用技術(shù)也發(fā)展起來，并且已經(jīng)發(fā)現(xiàn)中子在核數(shù)據(jù)測(cè)量、聚變堆材料輻照損傷研究,半導(dǎo)體抗輻射加固、還是在輻照育種、活化分析、治療癌癥方面等都具有廣泛的應(yīng)用前景。在對(duì)中子進(jìn)行基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究的過程中，中子產(chǎn)額及其測(cè)量就顯得尤為重要，中子產(chǎn)額是十分重要的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，其測(cè)量準(zhǔn)確性直接影響著其他數(shù)據(jù)的可靠性。

現(xiàn)有的對(duì)中子源(如DD/DT加速器中子源)中中子產(chǎn)額的監(jiān)測(cè)方法主要有對(duì)中子進(jìn)行相對(duì)測(cè)量的裂變電離室和活化法和對(duì)中子進(jìn)行絕對(duì)測(cè)量的伴隨粒子法和反沖質(zhì)子法，其中(1)裂變電離室和活化法屬于相對(duì)測(cè)量，需要其他探測(cè)器對(duì)其探測(cè)效率進(jìn)行刻度；(2)伴隨粒子法通過測(cè)量DD/DT伴隨質(zhì)子或α粒子確定中子產(chǎn)額，該方法精確度高，方法簡(jiǎn)便，但是探測(cè)器要固定在加速器靶系統(tǒng)上，對(duì)采用大面積旋轉(zhuǎn)靶的強(qiáng)流中子發(fā)生器應(yīng)用受到限制；(3)反沖質(zhì)子法測(cè)量的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確且完備因而誤差較小，但是體積通常較大，系統(tǒng)結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種反沖質(zhì)子法快中子探測(cè)裝置，其基于快中子和氫原子的彈性散射產(chǎn)生的反沖質(zhì)子數(shù)來確定快中子產(chǎn)額，旨在確保探測(cè)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性的基礎(chǔ)上，實(shí)現(xiàn)高效率的探測(cè)且整個(gè)裝置體積小、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、布置靈活。

技術(shù)負(fù)責(zé)人： 姚澤恩 核科學(xué)與技術(shù)學(xué)院